Об инструментах современной патентной аналитики расскажут студентам МГТУ им. Н.Э. Баумана

 




В понедельник, 4 декабря, в главном учебном корпусе МГТУ им. Н.Э. Баумана состоится лекция руководителя Проектного офиса Федерального института промышленной собственности Олега Енa на тему «Современная патентная аналитика: техники и инструменты».


Дата и время: 4 декабря 2017 года; 17:30-20:00


Место: г. Москва, ул. 2-ая Бауманская, д. 5 (Главный учебный корпус МГТУ им. Н.Э. Баумана), аудитория 407 (возможно уточнение).


Зарегистрироваться для участия в мероприятии можно по электронной почте: pmo@rupto.ru.



Библиотека документов Нормативно-правовые акты
Библиотека загрузок Библиотека загрузок



© 2009 -   ФИПС