Тематическая встреча 28 июня 2017 г.

 



28 июня 2017 г. состоялась тематическая встреча с участием руководства ФИПС на тему «Основы подготовки аналитических отчетов о патентных ландшафтах».

Модератором встречи был О.В. Ена, советник директора ФИПС, руководитель Проектного офиса ФИПС, который обратил внимание слушателей на актуальность патентных ландшафтов и их востребованность в настоящее время не только государственными структурами и крупными предприятиями, но также малыми и средними предприятиями. Проектный офис ФИПС, по словам О.В. Ена, признан на мировом уровне и включен в реестр поставщиков патентной аналитики уровня ВОИС.

Докладчики:

Н.В. Попов, руководитель Центра перспективных технологий ФИПС, «Ключевые аспекты анализа патентной информации»;

А.В. Лаенко, заместитель руководителя Центра перспективных технологий ФИПС, «Современные инструменты патентной аналитики».

В своих выступлениях докладчики подробно изложили вопросы формирования поисковых стратегий, специфики работы с патентными семействами, стандартизация имен, работы с первичными публикациями и правовым статусом документов, особенностей согласованного использования разных аналитических инструментов, анализа патентного цитирования.

Кроме того, участникам встречи были представлены исследования и разработки ФИПС в области патентной аналитики; рассказано о специфике и области применения аналитических продуктов ФИПС. Особое внимание было уделено новому информационному продукту ФИПС patScape.ru.

Отвечая на вопрос О.С. Неверовой, (Тамбовский государственный технический университет) о возможности прохождения стажировки по подготовке аналитических отчетов о патентных ландшафтах, О.В. Ена призвал всех заинтересованных лиц обращаться в Проектный офис ФИПС (pmo@rupto.ru).

Докладчики ответили также и на другие вопросы слушателей.

Во встрече участвовали 94 человека, включая 20 сотрудников Роспатента и ФИПС. Кроме того, в режиме видеоконференции приняли участие ЦПТИ при ГПНТБ СО РАН и Саратовском государственном университете им. Н.Г.Чернышевского – всего 29 человек.


Презентация доклада Н.В. Попова «Основы патентной аналитики»

Презентация доклада А.В. Лаенко «Инструменты анализа патентной и непатентной информации»

Библиографический указатель «Патентные ландшафты»


 Попов Н.В.  Участники встречи 
Лаенко А.В., Ена О.В., Попов Н.В.  Лаенко А.В. 
Участники встречи 
Фото: Владимир Чистяков, ФИПС 
Участники встречи из СГУ 
Фотоматериал Саратовского государственного университета 


ВПТБ



Библиотека документов Нормативно-правовые акты
Библиотека загрузок Библиотека загрузок



© 2009 -   ФИПС