Во вторник, 7 ноября 2017 года, в городе София (Болгария) открылась ежегодная Конференция Европейского патентного ведомства по патентной информации. Среди участников конференции – советник директора, руководитель проектного офиса Федерального института промышленной собственности Олег Ена и руководитель центра перспективных технологий Николай Попов.

Накануне представители ФИПС приняли участие в двух семинарах ЕПВ, посвященных анализу патентного цитирования для определения качества патентов и использованию данных о правовом статусе патентных документов в патентной аналитике. В частности, они рассказали об опыте российского патентного ведомства в этой сфере.

По словам Олега Ена, современные источники сведений о правовом статусе патентных документов – это огромные базы данных, которые содержат сотни миллионов записей о правовых событиях и состояниях патентов.

«В настоящее время в мире существует два основных подхода к гармонизации правового статуса: предлагаемый Европейским патентным ведомством централизованный подход – это база данных Inpadoc как единый источник глобального правового статуса и предлагаемый ВОИС децентрализованный, предполагающий связывание национальных реестров на основе единого стандарта. На семинаре мы представили свои соображения по гармонизации правового статуса для наиболее эффективного использования в патентном анализе», – отметил советник директора ФИПС.

Николай Попов подчеркнул, что патентное цитирование имеет очень широкий спектр применения.

«Это анализ конкурентных взаимозависимостей и технологического трансфера, выявление потенциальных нарушителей прав и бизнес-партнеров, изучение кросс-технологической миграции знаний. Патентное цитирование – это источник анализа патентной геополитики, а также индикатор качества патентной экспертизы на национальном уровне, – сказал Попов. – Для нас наибольший интерес представляет развитие методологии оценки качества (значимости, ценности) патентов на основе данных, извлекаемых из цитирования и отчетов о патентном поиске. Мы рассказали коллегам из ЕПВ о наших подходах к использованию метрик цитирования при оценке патентных портфелей компаний, а также о возможностях оценки эффективности НИОКР на основе индикаторов патентного цитирования».

Конференция ЕПВ по патентной информации – традиционное мероприятие, которое объединяет экспертов мирового уровня в области патентного анализа. Ежегодно в ней принимают участие патентные исследователи, сотрудники патентных ведомств и коммерческие поставщики патентной информации для обмена мнениями и передовым опытом.

С более подробной информацией о конференции можно ознакомиться по ссылке: epo.org/pi-conference.