Размер шрифта Цветовая схема Изображения
/ / Проектный офис ФИПС обучил специалистов управлению технологиями / Проектный офис ФИПС обучил специалистов управлению технологиями
Проектный офис ФИПС обучил специалистов управлению технологиями
5 ноября 2025

Специалисты Проектного офиса Федерального института промышленной собственности провели обучение слушателей по программе повышения квалификации «Патентная аналитика».

Обучение выстроено в триаде «Теория – практика – модельная консалтинговая деятельность», что позволяет слушателям с разным уровнем подготовки приобрести ключевые знания и навыки для задач управления технологиями.

Программа охватывает технические модули – работу в информационно-аналитической системе, построение аналитических представлений, использование инструментов генеративного ИИ, а также бизнес-компоненты, связанные с целеполаганием, интерпретацией аналитических представлений и формированием выводов и рекомендаций для принятия управленческих решений.

В ходе обучения участники освоили современные методы и инструменты работы с патентной информацией: моделирование предметной области, разработку поисковых стратегий, аналитическую обработку данных и визуализацию результатов. Значительная часть обучения была посвящена практическим заданиям. Слушатели работали в командах, выполняя проекты по построению патентных ландшафтов по актуальным направлениям, а по итогам курса представляли результаты своих исследований экспертной комиссии в формате презентаций.

В обучении приняли участие руководители, специалисты по интеллектуальной собственности и технические эксперты. Патентная аналитика – это междисциплинарный инструмент, объединяющий разные уровни управления технологиями – от решения конкретных инженерных задач до стратегического целеполагания и планирования.

Патентная аналитика сегодня является одним из ключевых инструментов управления технологиями, инновациями и интеллектуальной собственностью. Проведение подобных образовательных программ способствует развитию культуры принятия решений, основанных на данных и подтверждённых объективной патентной информацией.